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半导体电阻率测量仪TD-SB100A/2 本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量
使用四探针导体 半导体电阻率测量仪 四探针电阻率检测仪 于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低,他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要,本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量。
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