四探针电阻率检测仪-北京同德创业科技有限公司

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SZT2B四探针电阻率检测仪
电阻率：10的-4次方~10的6 次方Ω-cm 四探针测试仪四探针电阻率检测仪方阻计方块电阻：10的-4次方 ~10的6 次方Ω/□ 电阻：10的-4次方 ~10的6 次方Ω 2）．可测半导体材料尺寸直径：5mm-250mm 长度：任意（需要配笔试探头）

时间：2019-08-16型号：SZT2B浏览量：948

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TD-SB100A/3四探针电阻率检测仪
四探针电阻率检测仪为了满足实际的需要，本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量

时间：2019-07-31型号：TD-SB100A/3浏览量：1535

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TC-000501四探针电阻率检测仪
四探针电阻率检测仪 TC-KDY-4型四探针电阻率测试仪严格按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点： 1、配有双数字表：一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更。

时间：2019-07-30型号：TC-000501浏览量：1477

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TC-011709四探针电阻率检测仪
四探针电阻率检测仪由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低，他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要，本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于高校物理教育实验，对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻及电阻率的测试及研究。本产品的电阻测量范围可达10-6—106Ω。

时间：2019-07-26型号：TC-011709浏览量：693

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TC-011710四探针电阻率检测仪
四探针电阻率检测仪由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低，他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要，本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于高校物理教育实验，对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻及电阻率的测试及研究。本产品的电阻测量范围可达10-6—106Ω。

时间：2019-07-26型号：TC-011710浏览量：1264

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