自动介质损耗及体积电阻率测定仪

自动介质损耗及体积电阻率测定仪 介质损耗及体积电阻率测定仪 电阻率测定仪

自动介质损耗及体积电阻率测定仪 介质损耗及体积电阻率测定仪 电阻率测定仪

型号：ZY-YJS2000

该产品是一种高精度,全自动便携式油介损测试仪。可同时测量油体积电阻 率及油介损，还可同时测油（杯）电容量及介电常数。可自动测量ε。可自 动测量、手动测量，还具有通迅功能，能把测量数据传输计算机描绘成图， 以便比较保存，可配笔记电脑及通迅软件。油杯电为圆柱形，带小提手，加温恒温快。本缘油介损测量电在原理和结构上以国标GB5654-85为 标准，而设计生产出来的。
特点：
1、采用SF6标准电容器tgδ＜0.005%作为内标准，受空气湿度影响小 。
2、采用大屏幕、背光、液晶中文显示，微机操作，显示清晰。
3、具有手动、自动、通迅功能可供选择，测试效率高时间短，测试一次只 需30秒。
4、过压、过流、高压短路时、仪器能迅速切断高压、并发出警告信息。
5、一体化结构、重量轻、便于携带。
6、油杯采用手提式，拆装清洗方便，不烫手，油杯内外壁使用双传器，读 数方便，测量准确。
7、采用中频感应加热，油温控温准确，控温速度快。室温加热至控温值时 ，并稳定后，加热时间约25分钟。
8、油杯带有屏蔽保护，间距离为2 mm空气电容器，它能有效地抑制和消除杂散电容对测量的影响，提高测量精度。
主要技术指标：
介损测量范围0.000%～30.000%
介损分辨率：0.001%
电容测量范围：10PF～200PF
介损测量精度：±（读数×1%+0.0002）
测量电压：1.0KV、1.5KV、2.0KV、2.5KV（常规使用2.0正接法）
空杯子电容量：60±5PF
空杯介于损：tgδ＜1×10-4
液体容量：约40ml
电材料：不锈钢
温度范围：0～199.9℃
控温稳定度：±0.5+0.1℃
加热方式：中频感应加热
体积重量：350×260×230mm3 10kg

粉末电阻率仪型号：ST2722

ST2722型半导体粉末电阻率测试仪是运用四端子法或四探针法测试粉末电阻率的测量仪器。 

   仪器组成： 整套仪器有主机和粉末测试台两大部分组成。 

     主机 是整个系统电气控制显示核心部分，主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统单元以及压力厚度显示单元组成。 
    粉末测试台 是连接测试主机，用来装夹半导体粉末（含高分子粉末和金属粉末等），进行压力施加（压片），并同步进行电阻率测试的装置（以下简称测试台）。 
    测试台为粉末标准容器、电、加压机构、压力检测、厚度检测、连接线缆等单元组成。 北京同德创业  专业铸造品质
   优势特征：测试台设计，符合国标和行业规范，国内，并获。有两款。 
    四端子法符合GB/T 24521-2009和YS/T 587.6-2006有关国标和行业标准。采用通用的电流、电压四端子测量法（仪器电流源和电压表两个单元分别从独立回路连至电同时和样品接触），可以消除电与连接导线导通电阻产生的误差，克服了传统的二端法测量粉末电阻率仪器的弊病，可以真实地、准确地测量出粉末样品的电阻率，因此重复性也好。 
    四探针法测试台设计符合符合GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正材料》中关于粉末电阻率测试的原理和规范，参照GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。 北京同德创业  专业铸造品质
    四探针法同步压力连续测试粉末“电阻率-压强曲线，” 
    国内*，行业，行业推荐粉末电阻率标准测试方式。 
 仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；电压电流全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。 
    压力机构采用手动操作，压力（压强）平稳可调、可保持。电子传感器自动同步检测、显示压力（压强）值和样本高度。故本测试台可一边加压一边同步测试电阻率，可方便测绘粉末样品“电阻率-压强”的性能曲线；也可以单独作为粉末压制成片的工具使用，成片后可脱模取出，用普通四探针法测试相关参数！ 
    本测试仪配有成套PC软件，故不但可以单独（脱机）操作，还可以连接PC软件，自动保存当前测试数据、查询并统计分析历史数据、打印测试报告等！ 
  本仪器具有测量精度高，操作简便、稳定性好，重复性好，一机多用使用方便等特点。也是区别于以往旧款同类测试台新特点！本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和分析固态和粉态样品质量的一种重要优良工具。北京同德创业  专业铸造品质

三、技术参数

1. 电阻率测量范围、分辨率

电 阻 率：     15.0×10^-6 ～ 200.0×10³ Ω-cm  分辨率1.5×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω-cm

             （1.0×10^-6 ～ 200.0×10¹ Ω-cm  分辨率0.1×10^-6 ～ 0.1×10¹  Ω-cm）

2. 电阻率量程划分及误差等级

3. 数字电压表： 北京同德创业  专业铸造品质

⑴量程：10mV ～ 100 mV，自动

⑵显示: 4位有效数字，zui大显示999.9     小数点、单位自动显示

4. 数控恒流源

电流输出：直流电流0.1µA～1000mA可调，系统自动步进调整。

5.粉末测试台部分参数：

（1）、试样成份：成份不限，但不得含有对测试台和电有腐蚀作用的成份。

（2）、试样粒度：标准以40目以下—60目以上（标准筛网），一般其他粒度也可！

（3）、试样容器：内径：Φ11.28mm（S=1.0cm2）

高度：0～20mm可调,带高度传感器监测，测量误差：±0.05mm。

（4）、测试压强北京同德创业  专业铸造品质

标准压强：P0=4Mpa±0.05Mpa。
     压强量程：20Mpa, P=0～20 Mpa可调。
 （5）、压力机构采用手动操作、压力平稳可调。

四位有效显示数00.00～20.00MPa，分别率±0.01 MPa。

6.测试仪外形与重量北京同德创业  专业铸造品质

前宽×长×总高=250mm×220 mm×540mm

重          量=10Kg

7. 电源：

功 耗：< 10W

输入:220V±10%   50Hz

8. 本仪器工作条件为：

温    度：    0-40℃

相对湿度：    ≥60%

工作室内应无强电磁场干扰，不与高频设备共用电源。 

 双电测四探针测试仪  型号：KDB-3

 KDB-3双组合测试仪是根据标准SEMI MF1529设计，双组合测试方法使用四探针的方式不同于其他ASTM测量半导体电阻率或薄层电阻的方法。在本测试方法中，在测试样品的每个测量位置上，以两种不同的方式（配置）将探针连接到提供电流和测量电压的电路中。四探针的这种使用法通常被称为“双配置”或“配置切换”测量。单组合四探针相比，用较小间距的探针头就可以进行高精度的测量，从而可获得更高的晶片薄层电阻变化的空间分辨率。  
仪器特点如下：  
1、配有双数字表：一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更精确。  
数字电压表量程：0—199.99mV  灵敏度：10μV  输入阻抗：1000ΜΩ  
                        基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)  
2、可测电阻率范围：10—4 —1.9×104Ω·cm。  
     可测方块电阻范围：10—3 —1.9×105Ω/□。  
3、设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3探针间的电压（即电阻率）值；同样，当四探针头1、3探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、3探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、4探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。  
4、流经硅片的测量电流由高度稳定（万分之五精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响，整机测量精度＜3%。  
电流量程分五档：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。  
5、仪器采用触点电阻更低（＜5mΩ）、使用寿命更长的转换开头及继电器（＞10万次），在缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。  
6、可选配软件进行数据采集,可进行双组合或单组合测量，实现自动切换电压档位、读取相应电压值，根据不同方法计算电阻率或方块电阻值；软件可对测量数据进行分析，如平均值，zui大值、zui小值、zui大百分变化率、平均百分变化率、径向不均匀度等内容。  
7、可配KDDJ-3电动测试架，自动上下运行，使测量更方便快捷。  
8、四探针头采用上先进的红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性提高

产品名称：非分散红外测油仪溶煤 H-997 产品型号：H-997

非分散红外测油仪溶煤 H-997

于红外测油仪 OCMA-355 上的