热流法导热系数测定仪

热流法导热系数测定仪

  型号：TC-DRL-Ⅱ

产品编号：TC-001369

主要测试薄的热导体、固体电缘材料、导热树脂、硅胶、氧化铍瓷、氧化铝瓷等材料的导热系数，加围框可检测胶状材料、粉状材料。仪器参考标准：MIL-I-49456A（缘片材、导热树脂、热导玻纤增强）；GB 5598-85（氧化铍瓷导热系数测定方法）；ASTM D5470-2006（薄的热导性固体电缘材料传热性能的测试标准）等。广泛应用在大中院校，科研单位，质检部门和生产厂的材料分析检测。

 热流法导热系数测定仪

XK-DRL-Ⅱ导热系数测试仪（热流法） 主要参数
1、试样大小：Φ30mm ；
2、试样厚度：0.02-10mm ；
3、温度范围：40-150℃，或室温-300℃；
4、带有真空装置，保证测试环境不受外界干扰，真空度：-0.09MPa ；
5、连接上位机实现计算机自动测试，并实现数据打印输出。
6、电源：220V/50HZ ；
7、测试范围：0.015～45W/m•k ；
8、测试精度：3％；

导热系数测试仪 型号：DRE-2C

DRE-2C导热系数测定仪(瞬态平面热源法) 
DRE-2C导热系数测试仪采用瞬态平面热源法，主要测量固体、粉末、涂层、薄膜、各向异性材料等的导热系数。本仪器基于TPS瞬态平面热源技术，用Hot Disk作为探头的导热系数测定仪。 
DRE-2C导热系数测试仪Hot Disk法的优点有： 
(1)直接测量热传播，可以节约大量的时间； 
(2)不会和静态法一样受到接触热阻的影响； 
(3)无须特别的样品制备，只需相对平整的样品表面。 
 DRE-2C导热系数测试仪主要技术指标： 
1、导热系数测定范围：0.01—100W/mk 
2、测量时间：1-600秒 
3、准确度：优于5％ 
4、温度范围：标准测量：室温，(可根据客户要求选配各种温度段的测试温度，费用另计：如-20℃～120℃) 
5、样本尺寸：大于15mm高，大于直径45mm相对平整的样品表面

高温材料导热系数测试仪 型号： DRX-Ⅱ-RW  
一：仪器概述  
该热物性测试仪采用先进的瞬变热流法及纵向热流技术，具有方便、快捷、精确的特点，可用来测量各种不同类型材料的热导率、热扩散率以及热熔，适用的热导系数范围0.015-100W/MK之间，适用样品类型：固体、粉末材料。参照标准GB5598-85,GB3399-82,GB11205-89. 适应ASTM D5470，但它也使用热结构-函数分析以使结果更精确，符合MIL-I-49456A，缘片材，导热树脂，热导玻纤等。  
    该仪器可自动测试薄的导热材料的热阻抗与热导率参数。这些材料一般在电子封装业普遍使用，也可以测试一些软的或硬的、半液体或粘性的材料。热导率是描述材料热传导性能的重要参数。仪器通常可以适应测定热导率范围从高到中等的材料，接触压力范围在10-550psi（70-3800Kpa）手动加压或液压，样品温度范围为常温，也可到20—1200℃，后者需要定制装置。 测试时，样品被箝紧在两个平行的导热面之间（或者选择悬浮式非平行面），一面是加热面，一面是冷却面，所有数据通过计算机测试软件采集并分析输出结果。  
二：主要技术参数  
1. 样品尺寸：固体样品要求在直径15-50mm(定做60—100mm),厚度在10—15mm  
2. 导热系数范围：0.5-100w/MK，精度≤±3%,重复性≤±1%  
3．热扩散率测量精度：5%  
4.比热测量精度：7%（需配比热测试模块）  
5. 温度范围：常温-1200摄氏度(精度±1摄氏度)   
6. 接触压力范围：50-650kPa （手动）  
7. 接触压力精度：±3% （带显示装置时）  
8. 样品有效测量厚度：0-9mm   
9. 外接循环冷却液   
10.配有完整的测试系统及软件平台。  
11.操作采用全自动热分析测试软件，快速准确对样品进行试验过程参数分析和报 告输出。  
12．图片仅参考，以出厂为准。  
   
仪器配置  
1、测试主机               一台  
2、计算机（不带打印机）     一套  
3、测试软件               一套（光盘）  
4、说明书                 一份  
5、合格证                 一份  
6.恒温水槽                一台  
7.高温炉                  一台

产品名称：数字式四探针电阻率测试仪 产品型号：SX1944

数字式四探针电阻率测试仪型号：SX1944

产品说明   
 　　 四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。广泛用于半导体厂家、太阳能行业，还能满足科研单位的精密研究。　   
产品特点   
 　　四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）测试仪器。    
　　仪器以大规模集成电路为核心部件，采用旋扭式开关控制，及各种工作状态LED指示。应用微计算机技术，使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。   
　型号SX1944 
测量范围电阻率：10-4～105Ω-cm 方块电阻：10-3～106Ω/□ 电阻：10-4～105Ω 
可测半导体材料尺寸直径：Φ15～100mm 
测量方位轴向、径向均可 
数字电压表⑴量程： 200mV 
⑵误差：± 0.1% 读数± 2 字 
⑶大分辨力：10μV 
显示 : 4位半数字显示。小数点自动显示 

数控恒流源⑴电流输出：直流电流 0 ～ 100mA 连续可调，由交流电源供电。 
⑵量程： 1 μ A ， 10 μ A ， 100μA ， 1mA ， 10mA ， 100mA 
⑶误差：± 0.5% 读数± 2 字 

四探针测试探头⑴探 针 间 距： 1mm 
⑵探针机械游移率： ± 1.0% 
⑶探 针： 碳化钨，Φ 0.5mm 
⑷压 力： 0 ～ 2kg 可调 , 大压力约 2kg 

电源输入 : AC 220V ± 10% 50Hz 功 耗： <20W 
外形尺寸主机 260mm （长）× 210 mm （宽）× 125mm （高） 
备注USB 接口，配软件

产品名称：便携式浊度计 浊度计 产品型号：WGZ-1B

便携式浊度计 浊度计 型号 WGZ-1B

用途概述 Summary of functions

用于测量悬浮于水或透明液体中不溶性颗粒物质所产生的光的散射程度，并能定量表征这些悬浮颗粒物质的含量。可以广泛应用于发电厂、纯净水厂、自来水厂、生活污水处理厂、饮料厂、环保部门、工业用水、制酒行业及制药行业、防疫部门、医院等部门的浊度测量。

产品特点 Product Characteristics

►流线形外型设计，简洁的操作和较高的性价比

►大屏幕LCD数字清晰显示，采用低漂移、高精度电路系统

►色度补偿，有效避免试样颜色引起的干扰，能正确反映浊度的概念

►高强度长寿命光源，无更换之忧虑，30秒预热时间即可正常工作