产品名称：数字式电阻率测试仪/便携式电阻率检测仪产品型号：M-2数字式电阻率测试仪/便携式电阻率检测仪型号：M-2一·概述M-2型数字式电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置，它可以测量片状，块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（也称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低，中值电阻进行测量。仪器由主机，测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果用数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC，嵌入式单片机系统组成...

产品名称：电源保护继电器产品型号：JL430电源保护继电器型号：JL430主要用于低压三相交流配电系统的检测与保护，如起重机设备、电梯、泵类设备、采用三相三线制供电的设备保护，保护功能有过压、欠压、三相电压不平衡、静态断相、动态断相、相序错保护，特别适用于感性负载系统的电源保护。实时显示三相线电压，可做电压表功能，故障类型分别用汉字提示，为检修维护提供准确的故障定位。能分别记忆zui近3次的故障记录。所有参数都可设置，甚至所有保护功能都可关闭。过压和欠压保护：过压保护判定依据...

产品名称：微电脑电机保护器产品型号：JL-200微电脑电机保护器型号：JL-200JL-200系列微电脑电机保护器是我公司在多年研制电机保护器产品的基础上开发出的新一代高科技产品。此产品以微电脑控制器（MCU）为核心元件，通过高精度CT检测电流，电机保护器具有自动线性修正功能，在宽电流范围内仍具有较高的测量精度、过载保护、短路保护、堵转保护、欠载保护、缺相保护、三相电流不平衡保护、过压保护、欠压保护、相序保护等具有可靠的保护作用；并可实现报警和事件记录。本产品具有性价比高、功...

产品名称：穿心式电动机保护器产品型号：JL-200系列JL-200系列穿心式电动机保护器是我公司在多年研制电动机保护器产品的基础上开发出的新一代高科技产品。以微电脑控制器（MCU）为核心元件，通过高精度CT检测电流，电动机保护器具有自动线性修正功能，在宽电流范围内仍具有较高的测量精度，对过载、短路、堵转、欠载、缺相、三相电流不平衡、过压、欠压、相序等具有可靠的保护作用；并可实现报警和事件记录。本产品具有性价比高、功能齐全工作稳定可靠、精度高、保护动作准确、安装、参数设定简单方...

产品名称：微电脑定时限电动机保护器产品型号：JL-210微电脑定时限电动机保护器型号：JL-210JL-210微电脑定时限电动机保护器是以微电脑控制器（MCU）为核心元件，通过高精度CT检测电流，保护器具有自动线性修正功能，在宽电流范围内仍具有较高的测量精度、过载保护、短路保护、堵转保护、欠载保护、缺相保护、三相不平衡保护、过压保护、欠压保护、相序保护等具有可靠的保护作用；并可实现报警和事件记录。本产品具有性价比高、功能齐全、工作稳定可靠、精度高、保护动作准确、安装、参数设定...

产品名称：交流数字毫伏表产品型号：TC1931D交流数字毫伏表型号：TC1931D性能特点:4位数显,采用单片机技术,集模拟与数字技术于一体,是一种通用型智能化的全自动交流毫伏表.测量精度高,速度快,输入阻抗高,频率影响误差小等特点,具备自动和手动测量功能,同时显示电压值和db/dbm值.可测量两路信号,选配电脑接口232或488.主要技术指标:测量电压范围:100uV-300Vdb测量范围:-80db-50db（0db=1V）dbm测量范围:-77dbm-52dbm（0db...

产品名称：数字式电阻率测试仪/便携式电阻率检测仪产品型号：M-2数字式电阻率测试仪/便携式电阻率检测仪型号：M-2一·概述M-2型数字式电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置，它可以测量片状，块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（也称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低，中值电阻进行测量。仪器由主机，测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果用数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC，嵌入式单片机系统组成...

产品名称：四探针测试仪/四探针电阻率检测仪/方阻计/四探针检测仪产品型号：SZT2A四探针测试仪/四探针电阻率检测仪/方阻计/四探针检测仪型号：SZT2A主要说明：1．主机采用的先进电路设计，所测数值更精、更快、更准（一代为传统式电路，缺点：体积大，速度慢，元器件繁多导致影响机器寿命）。2．屏幕采用液晶显示（一代为只有数码管显示），手自一体（自动是标配，手动手持是自选）。3．匹配电脑接口及软件（有232接口和USB两种接口），让操作简便明了化（可直接连接电脑，电脑进行自动运算...

数字式四探针测试仪型号：SZT-ISZT-I型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。它可以测量片状、快状半导体材料径向和轴向电阻率，测量片状半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻（方块电阻），换上特制的四探针测试夹，还可以对金属导体的低中值电阻进行测量。此外，探针经过特殊加工后，还可以测量薄膜材料电阻率。广泛适用于半导体材料、器件厂、高等院校化学物理系、科研单位，对半导体材料的电阻性能测试。本仪器测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针，定位准确，游移率...

硅材料复合测试仪/硅材料复合检测仪型号：SZT-5SZT-5硅材料复合测试仪，是由二种硅材料测试仪器组合而成的1，二量程的电阻测量仪器，配以手持式四针测试头或座式测试架，可用来测量片状，柱状，或块状，电阻率在0.01~200欧姆/厘范围内的半导体材料。通过对恒流源的调整，可以对某些测量结果进行修整，例如对普通硅材料的测试结果要乘以0.628的探险头修正系数，对硅材料薄层扩散和导电薄膜“方块电阻“的修正系数为4.53等均可通过调正恒流电流加以处理。SZT数字式四探针测试仪，体形...