电阻率四探针测试仪TC-011620 TCWSP-51型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻），换上四端子测试夹具

紫外辐照计/紫外线强度检测仪/紫外强度仪 型号：UVB λ：（230～300）nm；λp=254nm （2）UV297探头 λ：（275～330）nm；λp=297nm

裂缝宽度检查仪TD-DJCK-2 TD-DJCK系列裂缝测宽仪是我公司针对传统裂缝显微镜不便于观看的缺点，依据中华人民共和国标准《危险房屋鉴定标准》GJG125-99关于裂缝宽度来评定房屋危险点的相关要求，研制开发的一款专门检测混凝土结构中裂缝宽度和表面微观缺陷的仪器。

桥梁挠度检测仪JZ-BJQN-4A型桥梁振幅检测仪用于检测各类桥梁的振动幅度，动、静态挠曲位移数值，桥梁基座位移，墩台位移，大型建筑物形变位移等。

是我公司上市的全智能型曲面小孔型光泽度仪是按照标准ISO2813，国外标准ASTMD523，DIN67530及标准GB9754，GB9966，GB/T13891设计生产的，各项技术均达到，并高于JJG696-2002《镜向光泽度计及光泽度板》鉴定规程中一级工作机的要求。

四探针电阻率检测仪仪器采用GB/T 1552-1995硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法 （2）范围：电阻率10-5～10+3欧姆·厘米，分辨率为10-5欧姆·厘米 方块电阻10-4～10+4欧姆/□，Z小分辨率为10-4欧姆/□ （3）可测量材料：半导体材料硅锗棒、块、片、导电薄膜等 可准确测量的半导体尺寸：直径≥20㎜

电动组织捣碎均浆机TC-000458每分钟可达12000转，物料扎起不锈钢杯中通过电机旋转驱动旋刀桶式进行劈裂、碾碎、掺合等过程。使用物料搅拌捣碎。本机体积小，消耗功率少，工作效率高。但本机对粘度高的液体和质料硬的物性（如骨石等）均不适宜。

便携式氯度计 型号：CLS-10B 一、产品用途： CLS-10B型是一种用于测量溶液中氯离子浓度的电化学测试仪器。该仪器适用于水厂、工业、农业、教学、科研等许多领域氯离子浓度的检测，以便控制被测水样的氯离子浓度是否达到规定的水质标准。