DRJ-I金属高温导热系数测试仪 该仪器采用试样直接通电纵向热流法，适用于80°～900℃温度范围内测量金属无相变温度下的导热系数，由计算机自动完成测试。满足了材料检测研究部门对金属材料导热系数的测试要求。仪器参考标准：GB/T3651-2008《金属高温导热系数测量方法》。

JXNRT1 非接触厚度电阻率测试仪 我司产品有：1）便携式电阻率型号测试仪、2）硅材料型号测试仪、3）硅材料重掺分选仪、4）硅材料电阻率测试仪、5） 高清晰度电子目镜。其产品定位于太阳能单晶（多晶）生产厂家，为硅材料的分选、测试提供专业的解决方案！ 1.厚度测试范围150~600um

JX2008电阻率及型号测试仪 产品说明 JX2008 电阻率及型号测试仪是运用四探针测量原理的多功能 综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和 轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的筛选。

M-2数字式电阻率测试仪型号：M-2 是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置，它可以测量片状，块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（也称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低，中值电阻进行测量

SZT-1数字式四探针测试仪 运用四探针测量原理 的多用途综合测量装置。它可以测量片状、快状半导体材料径向和轴向电阻率，测量片状半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻（方块电阻），换上特制的四探针测试夹，

SZT-4 数字式四探针测试仪 二量程的电阻测量仪器，配以手持式测试头或座式测试架，可用来测量片状，柱状，或块状，电阻率在0.01~200欧姆/厘范围内的半导体材料。（客户根据不同的要求可以选择不同的量程，

SZT-4数字式四探针测试仪二量程的电阻测量仪器，配以手持式测试头或座式测试架，可用来测量片状，柱状，或块状，电阻率在0.01~200欧姆/厘范围内的半导体材料。（客户根据不同的要求可以选择不同的量程，Z小可以测量0.0001Ω可以测量100000Ω,根据电流档定精度）通过对恒流源的调整，可以对某些测量结果进行修整

1936三位半交直流电压表 本机采用集成电路，高精度绕线电阻，低声运放器DC-DC转换逆变浮置供电，使测量精度更高，分辨率达到1uV，性能稳定可靠，低浮移，搞阻抗，抗干扰能力强，LED显示，读书清晰，宽测量范围，可按需组合，使用方便，功耗低，性价比高。