新型有毒气体检测仪型号： TD-826
产品说明
TD-826是一款可以配置单一气体或多种气体传感器的检测仪表，可配置单一、二合一、三合一、四合一或任选四种有毒气体传感器或任选单种气体传感器进行检测。

新型有毒气体检测仪型号： TD-826 
产品说明  
      TD-826是一款可以配置单一气体或多种气体传感器的检测仪表，可配置单一、二合一、三合一、四合一或任选四种有毒气体传感器或任选单种气体传感器进行检测。   
      TD-826多功能气体检测仪灵敏度高响应时间快，配备液晶显示屏以及音频声光报警提示，能够适应在较复杂的环境下进行浓度监测。该产品适用于化工、制药、市政、水处理、电信、考古、实验室、冷库、酿酒等多种场所。  
新型有毒气体检测仪
●体积小巧、携带轻便、坚固、音频声、光报警指示  
●大屏幕数字显示、瞬时值、峰值、平均值显示  
●开机或需要时对显示、电池、传感器、声光报警功能自检  
●安全提示：定期闪灯、声音提示  
●产品使用简单、操作方便、后期维护费用很低  
●可以支持1、2、3或4种的气体实时检测  

●传 感 器：氧气及有毒气体为电化学型,可燃气体/催化式  
●传感器寿命：24个月  
●电      池：3.6V锂离子充电电池  
●工作时间：可燃/连续工作15小时、有毒气体/连续工作200小时左右  
●显      示：大屏幕液晶显示  
●报      警：声、光报警  
●直接读数：瞬时值、峰值、电池电压、TWA、S  
●防爆标志：Ex ibdIICT3  
●防护等级：IP45  
●工作温度：-10∽40℃  
●工作湿度：5-90%RH  
●尺      寸：126mm*66mm*33mm  
●重      量：220g(带充电器)   
 

检测气体         量  程       精  度            小读数     响应时间  
氧气(O2)         0-30%vol       ＜±5%(F.S)      0.1% vol      ≤15秒  
可燃气体(Ex)      0-100%LEL    ＜±5%(F.S)       1% LEL        ≤15秒  
一氧化碳(CO)     0-999ppm      ＜±5%(F.S)       1ppm          ≤25秒  
硫化氢(H2S)       0-100ppm      ＜±5%(F.S)      1ppm          ≤30

产品名称：电阻率方块电阻测试仪  产品型号：KDB-1

本方阻测试新产品为薄膜测试提供机械、电气两方面的保护，在宽广的量程范围内，使各种电子薄膜能得到准确、无损的方块电阻测量结果。 
由于新型薄膜材料种类繁多，研制过程中样品性能变化较大，而且各种薄膜的机械强度，允许承受的电压、电流均不相同，因此KDB-1型测试仪可为用户量身定制各种特定探针压力及曲率半径的探针头，仪器的测试电流分7档，可由0.4μA增加到大为1000mA，测试电压可由8V增加到80V，测试电压和测试电流均可连续调节，给薄膜、涂层的研制者提供了一个摸索测试条件的宽阔空间。 
由于仪器设有恒流源开关，并且所有电流档在探针与样品接触后均有电流延时接通的功能，充分保护了样品表面不会因为探针接触时产生的电火花而受到损坏。 
仪器性能 
方阻测量范围：1×10-5～2×106Ω/□，小分辨率1×10-5Ω/□； 
电阻率测量范围：1×10-6～2×105Ω·cm或1×10-8～2×103Ω·m，小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m； 
探针压力：25g～250g； 
探针曲率半径：25μm～450μm 
（注：探针压力及曲率半径可根据薄膜材料性能及用户需求定制）； 
测试电流分7档：1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA； 
测试电压：（1μA～10 mA档）12～80V连续可调 
           （100mA档）    8～36V连续可调 
          （1000mA档）    8～15V连续可调； 
测量方式：手动或自动（配置测试软件）； 
测量对象：导电薄膜、半导体薄膜、电力电容器铝箔、各种金属箔、银浆涂层、锂电池隔膜等各种新型电子薄膜；各种半导体材料的电阻率。 
 

半导体激光尘埃粒子计数器  型号：CLJ-D

   
该系列仪器的技术指标均满足国家计量总局颁布的JJG547-88检定规程的要求，整机功能采用美国微电脑控制处理技术及上SMT芯片贴片封装技术和半导体激光传感器技术及防噪声气泵，可直接打印检测结果。具有功能多、测量精度高、速度快、便于携带和操作简单等特点。仪器一次采样可同时测得多种粒径的尘埃粒子数，并能选择观察其中某一粒径粒子的数目及其变化情况，对于研究、检测和评价各种洁净环境都十分方便。该系列仪器性能设计良好、质量稳定可靠

半导体激光尘埃粒子计数器  型号：CLJ-D

   
　　该系列产品已被广泛应用于洁净室检测；过滤器现场检测、捡漏；可监测净工作台、生物安全柜，HVAC系统，计算机室、饮料包装环境，医疗器械生产环境，医院洁净手术室，汽车喷涂环境微电子、制药、生化制品、食品卫生、精细化工、精密机械和航空航天等生产和科研部门，是制药企业及其监督管理部门贯彻GMP规范及电子生产企业的仪器。 半导体激光尘埃粒子计数器  型号：CLJ-D

主要技术参数及性能：

半导体激光尘埃粒子计数器  型号：CLJ-D

质
1.光源: 全半导体 激光光源 
2.采样量: 2.83L/min(0.1cfm/min) 
3.检测范围: 100级～100万级  
4.允许被测试空气的含尘浓度≯10 万颗/2.83L 
5.粒径通道: 0.3  0.5  1.0  3.0   5.0  10.0（μm）六档 
6.显示或打印可将2.83升/分内所含颗粒转换成1m3所含颗粒数。 
7.采样周期: 1～10 (min) 
8.自净时间: ≤15 (min) 
9.校准：可追溯美国国家标准技术协会（NIST）
10.工作环境: 温度:10～35℃    相对温度: 20～75%RH 
11.Z大功耗: 25W 
12.测量温度和湿度的范围与精度：（选购） 
（1）         温度：0～50℃±1℃ 
（2）         湿度：0～100%RH±5% 
13.采样点数   2～7点设定 
14.每点采样次数   2～9次设定 
15.UCL报表：符合FS-209E、中国GMP的标准 
16.工作时间：8 小时 
17.电源： AC220V±10%    50±2Hz 
18.重量:4.8kg 
19.外形尺寸: 260×130×340 
20.六档粒径尘埃浓度同时检测，依次数字显示或自选粒径显示。 
21.备注: 内置打印机、自动判断净化等级、等动力采样头、采样架

半导体激光尘埃粒子计数器  型号：CLJ-D