新型植物病害快速检测仪型号：TC-ARN-BHY
功能：
.可在一分钟内快速检测病毒病、真菌病、细菌病、真菌病毒复合病、真菌细菌复合病、病毒细菌复合病、真菌细菌病毒复合病、残留量、微量元素缺素症、光合作用率、叶片长势等。
简述：
.细菌、真菌和病毒是引起农作物病害的主要原因。这些病害微生物一般通过茎、叶、根系，果实等侵染植物，大部分病害在染病初期虽然较易防治

新型植物病害快速检测仪型号：TC-ARN-BHY 
功能： 
.可在一分钟内快速检测病毒病、真菌病、细菌病、真菌病毒复合病、真菌细菌复合病、病毒细菌复合病、真菌细菌病毒复合病、残留量、微量元素缺素症、光合作用率、叶片长势等。 
简述： 
     .细菌、真菌和病毒是引起农作物病害的主要原因。这些病害微生物一般通过茎、叶、根系，果实等侵染植物，大部分病害在染病初期虽然较易防治，但一般不易被人察觉，病害一旦发生，防治不仅困难而且效果较差，致使农作物减产，甚至收。如何在病害发病初期检测和及时防治，对防治病害的发生尤为重要。 
植物病害的检测是一种复杂的化学和物理过程，从实验室走入实际应用一直是人们追求的目标，该仪器能够快速分析确定各种农作物病害的种类。为如何防治病害及用药提供了科学理论依据，为农场主和农户带来了大的便利。 
新型植物病害快速检测仪
     . 根据生物物理学方法，一般健康植物的膜位在-50mv左右，外液挎膜电阻均在105Ω/cm左右，膜电容基本保持在1uf。作物一旦染病，必然导致分子振动光谱的变化和膜电位的升高，不同病菌的接种必然发生变化，根据这一原理，通过电导和光衍射的方法就能够分辨出病害的种类及类型，这项技术在范围内是的。 

.测定原理：高亮度冷光源反射测定原理。 
.测试速度：单项测试60份/小时，连续测试120份/小时。 
.记录方式：热敏打印机打印。 
.显示方式：240*60点阵式LCD显示。 
.记录纸：热敏打印纸，57mm。 
.工作环境：工作温度：0°-40℃   相对湿度：RH≤85%; 
.远离强电磁场干扰源，避免强光直接照射。 
.功率：≤30W 
.净重：≤3kg 
注意事项： 
.避免在强光直射的地方测试。 
.注意用电安全，空气湿度越过85%时应停止使用。 
.仪器应在通风、干燥、避光的位置存放，并用干布罩盖。 
.测试槽和打印头应保持清洁。 
仪器配套： 
.主机一台（内置热敏打印机）、试纸一盒、药剂一套（五瓶）、铝合金手提箱一只。

产品名称：自控恒温尿碘消解仪 石墨消解仪  产品型号：U60

自控恒温尿碘消解仪 石墨消解仪 型号：U60

自控恒温尿碘消解仪,采用创新技术，具有升温快速、程序控制、消解*、高效方便等优点，广泛应用于卫生系统、疾控中心的尿碘含量检测。  
选材新颖*，耐酸碱、耐高温，专为实验室量身定做。本产品采用智能控温数显，环绕式加热。节能快速，温度均匀，温度、时间等参数可以自由设定。省时省力大大提高了检测效率。 
性能特点： 
◇ 等静压高纯石墨,耐强酸强碱、耐高温、易清洁 
◇ 环绕加热：均匀性好、热效能高 
◇ 加热面大：处理样品多、消解效率高 
◇ 一体式设计：外观精美大气，采用智能温控仪表 
◇ 机箱保护罩采用进口特氟龙涂覆，能防强酸强碱 
◇(选配)液晶触摸屏式程序控温，多段程序可供自设定梯度控温曲线。显示样品时间反应温度，并可根据样品不同进行相应修正。具备变功率加热及补温系统。历史数据记忆，曲线参数可导出，数据可追溯(选配)。 
 自控恒温石墨尿碘消解仪技术参数 
型    号 U60 
样品位数60个 
样品容量25ml 
消解样品60个*φ16*H50 
控温范围室温-350℃ 
控温精度±0.1℃ 
孔间温差±0.1℃@100℃,6h； 
孔温波度±0.1℃@100℃,6h； 
功    率1800 W 
重    量35Kg 
控显方式液晶触摸式控温 
电    源交流220v/50HZ 
温馨提示特殊应用和其他规格,可订制。

双电测数字式四探针测试仪型号： ST2263 
概述  
     ST2263型双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测-改进形范德堡测量方法测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。   
      ST2263型双电测数字式四探针测试仪成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等部分组成。      
      ST2263型双电测数字式四探针测试仪主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘和数码开关输入；具有零位、满度自校功能；测试功能可自动/手动方式；仪器操作可由配套软件在PC机上操作完成，也可脱PC机由四探针仪器面板上独立操作完成。测试结果数据由主机数码管直接显示，也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和打印！  
     
     探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。  
     测试台选配：一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。      
          详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》点击进入  
      ST2263型双电测数字式四探针测试仪具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。  
     仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。  
三、基本技术参数      
3.1  测量范围      
    电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm  
    方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□  
    电  阻：1×10-5～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω  
3.2  材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)  
    直    径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限  
    SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.  
    长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限.  
    测量方位: 轴向、径向均可  
3.3.  4-1/2 位数字电压表：  
    (1)量程： 20.00mV～2000mV  
    (2)误差：±0.1%读数±2 字  
3.4  数控恒流源  
   (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A  
   (2)误差：±0.1%读数±2 字  
3.5  四探针探头（选配其一或加配全部）  
   (1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调  
   (2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调  
3.6 电源      
   输入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W  
3.7 外形尺寸：  
   主机  220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（高）