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四探针电阻率检测仪仪器采用GB/T 1552-1995硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法 （2）范围：电阻率10-5～10+3欧姆·厘米，分辨率为10-5欧姆·厘米 方块电阻10-4～10+4欧姆/□，Z小分辨率为10-4欧姆/□ （3）可测量材料：半导体材料硅锗棒、块、片、导电薄膜等 可准确测量的半导体尺寸：直径≥20㎜
使用四探针导体 半导体电阻率测量仪 四探针电阻率检测仪 于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低，他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要，本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量。
数字式四探针测试仪 四探针电阻率检测仪 方阻仪 TRST-2253 型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量半导体材料的电阻率，测量扩散层的薄层电阻（亦称方阻）。
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