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WLP-202A 费氏平均粒度仪为全新升级第四代气体透过法粉末粒度专用检测设备，依托经典空气透过法检测原理，专业用于金属、非金属及各类化合物粉末的费氏平均粒度、比表面积定量检测。WLP-216A平均粒度仪特点
WLP-216G平均粒度仪简介及应用范围 WLP-216G系列为第5代气体透过法粒度测定仪（平均粒度仪），是测定金属、非金属及其化合物粉末的粒度和比表面积的仪器。可广泛应用于粉末冶金、精细化工、硅酸盐工业、食品、制药、核工业的各种粉末平均粒度和比表面积的测定。本仪器结构简单，操作方便，仪器配有测试软件不需要复杂计算，测定时间需小于1分钟。
平均粒度测定仪WLP-208A 技术参数： ⑴测量范围：0.2～50μm（微米） ⑵孔隙度范围：0.25－0.40，0.40－0.80，0.80－0.95 ⑶重复性：±3% ⑷环境温度：25±10℃
WLP-202A 费氏平均粒度仪为全新升级第四代气体透过法粉末粒度专用检测设备，依托经典空气透过法检测原理，专业用于金属、非金属及各类化合物粉末的费氏平均粒度、比表面积定量检测。
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